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QFN28-0.35-3*3測試座0091TGH用于芯片燒錄老煉功能測試

	價格：258.00 元(人民幣)	產地：廣東深圳
	最少起訂量：1	發(fā)貨地：廣東深圳
	上架時間：2024-08-27 02:00:17	瀏覽量：26
	深圳市鴻怡電子有限公司
	經營模式：生產加工	公司類型：私營有限責任公司
	所屬行業(yè)：治具	主要客戶：
	在線咨詢

聯系方式

聯系人:William (先生)	手機:13622364332
電話:	傳真:
郵箱:huang@hydz999.com	地址:

詳細介紹

產品參數
型號	QFN28-0.35-3*3-0091TGH
封裝/規(guī)格	插件
間距	0.35
總針腳數	28
圓孔/方孔	圓孔
觸頭鍍層	金
工作溫度范圍	-45~155℃
包裝	盒裝
認證機構	CE
最小包裝量	1
數量	1
封裝	QFN
批號	以出貨為準
用途	老煉老化測試
應用場景	與老化板配合
芯片尺寸	3*3
品牌	ANDK

QFN28-0.35-3*3-0091TGH芯片測試座
1.引腳：28 signal Pin 1 GND；
2.間距：0.35mm
3.尺寸：3*3mm
4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV（initial）
7.Temperature:-45~155℃
8.Current Rating：1A Max.