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維修租賃371ATektronix/泰克371A晶體管測試儀

主要參數(shù)：?半導體器件***測量

-上限達2000V或電流到10A的源（370A）

-上限到3000V（371A）

-上限到220W（370A）

-上限到400A（371A）

-1nA的測量分辨率

-上限到3000W（371A）

?上限到2mV的測量分辨率（370A）

?波形對比

?包絡(luò)顯示

?波形平均

?點光標（370A）

?Kelvin傳感測量

?全程控

?MS-DOS兼容的軟盤，方便設(shè)置參孝存儲和調(diào)用

應(yīng)用

手動或自動進行半導體高分辨率DC參數(shù)測量

來料檢查

生產(chǎn)測試

過程監(jiān)視及質(zhì)量控制

數(shù)據(jù)報告的生成

元件配對

失效分析

工程測試

交互式程

所有交互式程控測量是通過有鮮明特點的前面板或GPIB來完成的。使用幾種存儲方式，調(diào)整和存儲操作參數(shù)，包括370A的非

易失存儲器、內(nèi)置的MS-DOS兼容的軟盤或到外部控制器。

測試夾具

測試夾具是標準附件，它提供被測器件安全防護，以保護測量人員的安全。測試夾具適應(yīng)標準的A1001，中間通過Kelvin傳

感的A1005適配器、無Kelvin傳感的3芯適配器和A1023、A1024表面封裝適配器。

370A程控特性曲線圖示儀

370A是******的高分辨率特性曲線圖示儀，可應(yīng)用到許多場合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場效應(yīng)管

、光電元件、太陽能電池、固態(tài)顯示和其它半導體器件的直流參數(shù)特性的測試。

在研發(fā)實驗室，用370A來完成新器件、SPIEC參數(shù)的提取、失敗分析和產(chǎn)生數(shù)據(jù)報告這些具體的測試工作

在制造過程中，用370A檢驗器件質(zhì)量及過程監(jiān)視。

370A可進行來料檢查、器件性能測試、失效分析和器件配對這些測試工作。

技術(shù)指標 集電極電源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范圍 峰值電流（±） 峰值電流（脈沖式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 階梯信號發(fā)生器 模式 階梯：DC,80μS脈沖，300μS脈沖 階梯量程-   電流： 50nA到200mA，按1-2-5順序 電壓： 50mV到2V，按1-2-5順序 偏置 到±10X階梯幅度 階梯數(shù) 0到10 測量特性 集電極電流-   測試量程： 100nA/div(1nA分辨率）至2A/div誤差，1.5%光標讀出+0.05div設(shè)定值（點光標） 發(fā)射極電流-   測試量程： 1nA/div(10pA分辨率）至2mA/div 誤差 1.5%光標讀出+0.05div設(shè)定值+1nA 安全標準 UL1244，CSA231，HD401S1