BW-3010B 晶體管光耦參數(shù)測試儀(雙功能版) |
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價格:15000 元(人民幣) | 產(chǎn)地:陜西西安 |
最少起訂量:1臺 | 發(fā)貨地:陜西西安 | |
上架時間:2024-10-12 11:07:18 | 瀏覽量:28 | |
陜西博微電通科技有限責(zé)任公司
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經(jīng)營模式:生產(chǎn)加工 | 公司類型:私營有限責(zé)任公司 | |
所屬行業(yè):電子測量儀器 | 主要客戶: | |
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聯(lián)系人:博微電通科技 (先生) | 手機(jī):15353786259 |
電話: |
傳真: |
郵箱:350253797@qq.com | 地址:陜西省西咸新區(qū)灃東新城鑫森源產(chǎn)業(yè)園 |
BW-3010B 晶體管光耦參數(shù)測試儀(雙功能版) BW-3010B型光藕參數(shù)測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數(shù)測試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試。 ,BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數(shù)的設(shè)定,測試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中,測試條件可以任意設(shè)置,測試正向壓降和輸出電流可達(dá)1A,操作簡便,實(shí)用性強(qiáng)。廣泛應(yīng)用與半導(dǎo)體電子行業(yè)、新能源行業(yè)、封裝測試、家電行業(yè)、科研教育等領(lǐng)域來料檢驗(yàn)、產(chǎn)品選型等重要檢測設(shè)備之一。
產(chǎn)品電氣參數(shù):
產(chǎn)品信息 產(chǎn)品型號:BW-3022A 產(chǎn)品名稱:晶體管光耦參數(shù)測試儀; 物理規(guī)格 主機(jī)尺寸:深 305*寬 280*高 120(mm) 主機(jī)重量:<4.5Kg 主機(jī)顏色:白色系 電氣環(huán)境 主機(jī)功耗:<75W 環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作); 相對濕度:≯85%; 大氣壓力:86Kpa~106Kpa; 防護(hù)條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導(dǎo)電粉塵等; 電網(wǎng)要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz; 工作時間:連續(xù);
服務(wù)領(lǐng)域:
應(yīng)用場景: ?選型配對(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試,將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對) ?檢驗(yàn)篩選(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
產(chǎn)品特點(diǎn): ?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單 ?大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達(dá)1000種設(shè)置型號數(shù). ?全部可編程的DUT恒流源和電壓源. ?內(nèi)置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路. ?高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達(dá)1500V; ?重復(fù)”回路”式測試解決了元件發(fā)熱和間歇的問題; ?軟件自校準(zhǔn)功能; ?自動測試測DUT短路、開路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測試; ?DUT的功能檢測通過LCD顯示出被測器件/DUT的類型,顯示測試結(jié)果是否合格,并有聲光提示; ?兩種工作模式:手動、自動測試模式。
BW-3010B主機(jī)和DUT的管腳對應(yīng)關(guān)系
型號類型
P1
T1
P2
T2
P3
T3
P4
T4
光藕PC817
A
A測試端
K
K測試端
E
E測試端
C
C測試端
BW-3010B測試技術(shù)指標(biāo):
1、光電傳感器指標(biāo):
輸入正向壓降(VF)
測試范圍
分辨率
精度
測試條件
0-2V
2mV
<1%+2RD
0-1000MA
反向電流(Ir)
測試范圍
分辨率
精度
測試條件
0-200UA
0.2UA
<2%+2RD
VR:0-20V
集電極電流(Ic)
測試范圍
分辨率
精度
測試條件
0-40mA
0.2MA
<1%+2RD
VCE:0-20V IF:0-40MA
輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))
測試范圍
分辨率
精度
測試條件
0-2.000V
2mV
1% +5RD
IC:0-40mA
IF:0-40mA
輸出漏電流(Iceo)
測試范圍
分辨率
精度
測試條件
0-2.000mA
2UA
<2%+2RD
VR:0-20V
2、光電耦合器:
耐壓(VCEO)測試指標(biāo)
測試范圍
分辨率
精度
測試條件
0-1400V
1V
<2%+2RD
0-2mA
輸入正向壓降(VF)
測試范圍
分辨率
精度
測試條件
0-2V
2mV
<1%+2RD
0-1000MA
反向漏電流(ICEO)
測試范圍
分辨率
精度
測試條件
0-2000uA
1UA
<5% +5RD
BVCE=25V
反向漏電流(IR)
測試范圍
分辨率
精度
測試條件
0-2000uA
1UA
<5% +5RD
VR=0-20V
電流傳輸比(CTR)
測試范圍
分辨率
精度
測試條件
0-9999
1%
1% +5RD
BVCE:0-20V
IF:0-100MA
輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))
測試范圍
分辨率
精度
測試條件
0-2.000V
2mV
1% +5RD
IC:0-1.000A
IF:0-1.000A
可分檔位總數(shù):10檔
BW-3010B測試定義與規(guī)范:
AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.
VF:IF: 表示測試光耦輸入正向VF壓降時的測試電流.
Vce:Bv:表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電壓.
Vce:Ir: 表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電流.
CTR:IF:表示測試光耦傳輸比時輸入端的測試電流。
CTR:Vce:表示測試光耦傳輸比時輸出端的測試電壓。
Vsat:IF:表示測試光耦輸出導(dǎo)通壓降時輸入端的測試電流。
Vsat:Ic:表示測試光耦輸出導(dǎo)通壓降時輸出端的測試電流。
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